2025年5月13日，中国科学技术大学与西安光学精密机械研究所联合团队宣布，成功研发了一种基于主动光学强度干涉技术的毫米级高分辨率成像系统，实现了在1.36公里距离下毫米级精度的成像目标。这一技术突破为远距离、高精度遥感成像及空间碎片探测等领域开辟了新的可能性。

　　该研究团队通过构建一个由两台可移动望远镜组成的干涉基线，长度范围在0.07至0.87米之间，并结合高灵敏度单光子探测器，测量目标反射光场的强度关联信息。同时，研究团队开发了一套鲁棒的图像恢复算法，成功重建了具有毫米级分辨率的目标图像。

　　此次技术突破的核心在于主动光学强度干涉技术的应用。传统强度干涉技术虽然在光学长基线合成孔径成像中具有显著优势，但其在大气湍流环境下的应用受到限制。为了克服这一难题，研究团队创新性地结合了主动照明技术，通过多激光发射器阵列系统，利用大气湍流的自然调制，生成多个相位独立的激光束，从而实现远距离的高精度成像。

　　《物理评论快报》的审稿人对该成果给予了高度评价，认为该论文在远距离大气高分辨率成像问题上取得了重大进展，并指出这一研究为未来相关领域的技术发展奠定了坚实基础。

　　这一技术的成功应用不仅提升了我国在光学成像领域的国际竞争力，还为遥感探测、空间碎片监测以及未来可能的深空探测任务提供了强有力的技术支持。例如，在遥感探测领域，这项技术可以显著提高对地观测的精度，为环境监测、灾害预警等提供更可靠的数据支持;在空间碎片探测方面，它能够更清晰地识别和跟踪微小碎片，从而更好地保障航天器的安全运行。

　　研究团队表示，下一步将继续优化成像系统的性能，探索更长距离和更高分辨率的成像能力。同时，他们也计划将这项技术推广至其他领域，如医学成像、机器人导航等，以进一步拓展其应用范围。

　　此次毫米级高分辨率成像技术的突破标志着我国在光学成像领域迈出了重要一步，也为全球科学研究和技术发展贡献了中国智慧和力量。